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              美國International Light - 儀器儀表 型號/圖片

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              美國ILT2400-222UV輻照計222nm準分子UVC LED紫外殺菌光源測量驗證帶校準證書

              International Light ILT2400-222UV輻照計經過專門配置和校準,具有經ISO17025認可的NIST可追溯校準證書,可測量220-222nm準分子燈富士照度,輻照度8 nW/cm2至4 mW/cm2,劑量范圍8 nJ/cm2至數百萬mJ/cm2,用于窄帶UVC紫外殺菌消毒系統中的光源測量驗證,幫助抗擊COVID-19新冠病毒和其他傳染病。

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              美國ILT2400輻照計SED185探頭185nm臭氧殺菌探測器UV光解廢氣

              International Light ILT2400輻照計專用SED185/NS185臭氧殺菌探測器安裝了窄帶濾光片,響應光譜范圍165~200nm ,中心波長185nm,專為測量低強度185nm波長的臭氧殺菌紫外線輻照度,應用于與光解廢氣、水處理和表面殺菌行業。

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              美國IL國際光學ILT2400輻照計SED254/QT探頭254nm高強度紫外殺菌燈測量

              International Light ILT2400輻照計SED254/QT探頭光譜響應波段249-259nm,校準于254nm中心波長,輻照度量程范圍7e-7~10W/cm2,專門設計用于各種高強度紫外線殺菌源254nm處的殺菌效果,帶美國NIST可溯源校準和證書。

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              國際光學International Light ILT800-UV輻照計UVA/UVB紫外光固化能量計

              美國International Light ILT800-UV輻照計即UVA/UVB能量計響應波長250-400nm,可同時以測量劑量mJ/cm2和輻照度5mW/cm2~40W/cm2,用于UV墨紫外光固化工藝檢測,一體化集成式設計,每秒3000個數據采樣率,圖形化的測量顯示,可存儲1000個測量值,CureRight PC軟件可下載比較測量值,帶ISO17025認證和NIST可追溯的校準報告證書。

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              美國IL ILT2400輻照計XSD140B探頭365nm光阻劑光刻膠輻射測量

              International Light國際光學ILT2400輻照計專用探頭XSD140B用于PCB印刷線路板及半導體行業光刻膠工藝紫外線曝光強度測量,響應波段326-401nm,中心波長365nm,輻照度量程7e-8至1W/cm2,研究級的質量,手持式產品的價格。

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              美國International Light ILT800輻照計輸送帶式UV固化曝光能量計

              International Light ILT800能量計以其215nm至475nm的寬光譜測量范圍覆蓋了各種測光需求,緊湊型一體化設計,特別適合用于測量每分鐘1~80英尺的傳送帶式曝光設備的曝光量,可應對紫外線固化設備中常見的極端環境條件。

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              美國ILT2400 UVGI-NB紫外輻照計254nm窄帶低劑量UVC殺菌光源檢測

              國際光學International Light ILT2400-UVGI-NB輻照計經過專門配置,響應光譜249-259nm窄帶波段,用于測量驗證254nm紫外線低壓汞和其他可以使大多數病原體包括COVID-19病毒失活的窄帶UVC殺菌消毒光源,低劑量輻照度范圍0.4uW/cm2-4W/cm2,帶ISO17025認證的254 nm NIST可追溯校準報告證書,儀器便攜式帶大觸摸屏操作。

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              美國IL國際光學ILT2400測光表XSD340A探頭405nm光刻膠輻照度

              International Light ILT2400輻照計和XSD340A探頭組成的測量系統可用于PCB印刷線路板光刻膠工藝,可測量320-475nm光阻劑作用光譜,校準于405nm,光探測器可承受輻照強度范圍8e-7至10W/cm2,NIST可溯源ISO17025認證校準報告,保證測量結果精確可靠。

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              美國ILT2400+XSD340B輻照計365nm波長30W/cm2高功率曝光

              國際光學International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統用于326-401nm波段紫外線輻照度監測,校準于365nm光阻劑作用光譜,精確地知道光致抗蝕劑曝光的程度,可測量高達30W/cm2 高強度,用于PCB印刷電路板光及半導體業。

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              美國ILT2400紫外輻照計XSD340AT7探頭XIR395nm波長校準片

              International Light ILT2400輻照計及XSD340AT7探頭、XIR395校準片用于精確控制395nm波長曝光強度等級和曝光時間,測量速度高達100μs,內置可充電電池持續長達8小時,4.3寸觸摸屏顯示,可橫向和縱向觀看,帶NIST可溯源ISO17025認證校準證書。

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